FLIR Report Studio‎

使用者手冊

FLIR Report Studio‎

1.3

1  法律免責聲明

1.1  法律免責聲明

FLIR Systems 針對其製造之所有產品中有瑕疵的材料及製品,從原始購買的交付期開始,提供為期一 (1) 年的保固,前提是這些產品按照 FLIR Systems 的操作指南,在正常情況下儲存、使用和維修服務。
非由 FLIR Systems 製造但包括在 FLIR Systems 交付給原始購買者之系統中的所有產品都僅限於特定供應商的保固範圍內,FLIR Systems 對此類產品不負任何責任。
保固對象僅為原始購買者,不可轉讓。不適用於遭到不正確使用、受到忽略、意外或異常操作狀況的產品。可擴展的零件不包含在保固範圍中。
如果產品瑕疵不在這份產品保固的範圍內,不可以繼續使用產品以防止加重損壞。 購買者應立即向 FLIR Systems 報告瑕疵問題,否則本保固將不適用。
如果在檢查後證明材料或成品有瑕疵,而且在上述之一年期限內將產品交還 FLIR SystemsFLIR Systems 將自行決定是否免費修理或更換此類瑕疵產品。
除上述內容外,FLIR Systems 對於產品瑕疵不負其他義務或責任。
沒有其他明示或暗示的保固。FLIR Systems 明確否認對適銷性和特定目的的適用性的暗示保固。
無論根據契約、侵權行為或任何其他法律原理,FLIR Systems 概不負責任何直接、間接、特別、隨附或衍生的損失或損害。
此保固受瑞典法律的規範。
任何因本保固所衍生,或與本保固有關的爭議、糾紛或索賠,應依照斯德哥爾摩商會仲裁院 (Arbitration Institute of the Stockholm Chamber of Commerce) 的規定來進行仲裁。仲裁的地點應在斯德哥爾摩,仲裁訴訟應以英語進行。

1.2  使用統計資料

FLIR Systems 保留收集匿名使用統計資料,以助維護與改善本公司軟體及服務品質之權利。

1.3  登錄的變更

FLIR Camera Monitor 服務偵測到 FLIR 熱像儀係透過 USB 纜線連接至電腦,則登錄項目 HKEY_LOCAL_MACHINE\SYSTEM\CurrentControlSet\Control\Lsa\LmCompatibilityLevel 將自動變更成溫階 2。此項變更僅在熱像儀裝置應用可支援網路登入的遠端網路時才會生效。

1.4  版權

© 2016, FLIR Systems, Inc. 在全球保留所有權利。在沒有事先獲得 FLIR Systems 書面許可的情況下,包括原始碼在內的軟體任何部分,均不得使用電子、磁性、光學、手工等任何方式,進行複製、傳輸、傳抄或翻譯成任何形式的任何語言或電腦語言。
未經 FLIR Systems 的事先書面許可,本手冊的全部或部分皆不可複製、影印、重製、翻譯或傳送到任何電子媒體或可由機器閱讀的形式。
出現在此處產品中的名稱和標記都是 FLIR Systems 和/或其分公司的註冊商標或商標。此處參考的所有其他商標、商品名稱或公司名稱僅用於識別目的,是各自所有者的財產。

1.5  品質保證

開發和製造這些產品所遵循的「品質管理系統」已依照 ISO 9001 標準取得認證。
FLIR Systems 致力於持續發展的政策,因此我們保留得不予通知即變更及改進任何產品的權利。

2  使用者注意事項

2.1  使用者對使用者論壇

在我們的使用者對使用者論壇中與世界各地的熱像檢測師交換意見、問題和紅外線解決方案。如需進入論壇,請瀏覽:
http://forum.infraredtraining.com/

2.2  培訓

要瞭解有關紅外訓練的資訊,請瀏覽:

2.3  文件更新

本公司每年都會更新手冊幾次,而且我們也會定期發出重大的產品異動通知。
如需取得最新手冊、翻譯手冊及通知,請到以下的 Download 標籤:
您只需幾分鐘即可完成線上註冊。您亦可在下載區找到本公司其他產品的最新版手冊,以及過去的或不再生產的產品手冊。

2.4  軟體更新

FLIR Systems 定期發行軟體更新,您可以使用此更新服務進行軟體更新。視您的軟體而定,此更新服務位於下列兩個或其中一個位置:
  • 開始 > FLIR Systems > [軟體] > 檢查更新
  • 說明 > 檢查更新

2.5  此手冊的相關重要注意事項

FLIR Systems 發行的是一般用途的說明書,書中涵蓋套裝軟體內數種不同軟體版本的說明,
這表示本說明書可能含有某些不適用於您軟體版本的描述和說明。

2.6  其他授權資訊

您所購買的每個軟體授權,允許您在兩個裝置上安裝、啟動和使用軟體,例如,一個是用於現場資料擷取的筆記型電腦,另一個是用於分析的辦公室桌上型電腦。

3  客戶支援

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3.1  一般

如需客戶支援,請瀏覽:

3.2  提出問題

要向技術客戶支援團隊提交問題,您必須是註冊使用者。線上註冊僅需幾分鐘。如果您只想搜尋現有問題與解答的知識庫,則無需註冊為使用者。
如需提交問題,請務必在手邊準備好以下資訊:
  • 熱像儀的型號
  • 熱像儀的序號
  • 熱像儀與您裝置之間的通訊協定或方法 (例如,SD 讀卡機、HDMI、EthernetUSBFireWire)
  • 裝置類型 (PC/Mac/iPhone/iPad/Android 裝置等)
  • 來自 FLIR Systems 的任何程式版本
  • 說明書的全名、出版號和版本號

3.3  下載

您也可以在客戶支援網站上,下載適用於產品的以下物件:
  • 紅外線熱像儀的韌體更新。
  • PC/Mac 軟體的程式更新。
  • PC/Mac 軟體的免費軟體和評估版。
  • 目前、過去或停產產品的使用者文件。
  • 機械製圖 (*.dxf 與 *.pdf 格式)。
  • Cad 資料模型 (*.stp 格式)。
  • 應用範例。
  • 技術資料表。
  • 產品目錄。

4  簡介

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FLIR Report Studio 套裝軟體專為輕鬆建立檢測報告而設計。
您可以在 FLIR Report Studio 執行的操作範例包括:
  • 將影像從熱像儀匯入到電腦。
  • 在任何熱影像上新增、移動測量工具並調整測量工具大小。
  • 為您所選的任何影像建立 Microsoft Word 和 PDF 報告。
  • 新增頁首、頁尾與標誌到報告。
  • 建立自己的報告範本。

5  安裝

5.1  系統要求

5.1.1  作業系統

FLIR Report Studio 支援以下 PC 作業系統的 USB 2.0 和 3.0 通訊方式:
  • Microsoft Windows 7,32 位元。
  • Microsoft Windows 7,64 位元。
  • Microsoft Windows 8,32 位元。
  • Microsoft Windows 8,64 位元。
  • Microsoft Windows 10,32 位元。
  • Microsoft Windows 10,64 位元。

5.1.2  硬體

  • 採用雙核心 2 GHz 處理器的個人電腦。
  • 4 GB 的 RAM (建議至少有 8 GB)。
  • 128 GB 硬碟,至少 15 GB 可用硬碟空間。
  • DVD-ROM 光碟機。
  • 支援 DirectX 9 圖形,並含:
    • WDDM 驅動程式
    • 128 MB 圖形記憶體 (最小需求)
    • 硬體內含 Pixel Shader 2.0
    • 每一像素 32 位元。
  • SVGA (1024 × 768) 監視器 (或更高解析度)。
  • 網際網路連線 (可能需另行付費)。
  • 音訊輸出。
  • 鍵盤與滑鼠,或相容的指標裝置。

5.2  安裝 FLIR Report Studio‎

5.2.1  程序

請執行以下程序:

6  管理授權

6.1  啟動您的授權

6.1.1  一般

在您首次啟動 FLIR Report Studio 時,您可以選擇以下選項之一:
  • 線上啟動 FLIR Report Studio
  • 透過電子郵件啟動 FLIR Report Studio
  • 購買 FLIR Report Studio 並收到一組啟動序號。
  • 在試用期間免費使用 FLIR Report Studio

6.1.2  

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圖 6.1  啟動對話方塊。

6.1.3  線上啟動 FLIR Report Studio‎

6.1.4  透過電子郵件啟動 FLIR Report Studio‎

6.1.5  在無法存取網際網路的電腦上啟動 FLIR Report Studio‎

如果您的電腦無法存取網際網路,您可以從另一部電腦傳送電子郵件以索取解鎖金鑰。

6.2  移轉您的授權

6.2.1  一般

您可以將使用授權從一部電腦移轉至另一部電腦,但前提是不超過購買的授權數量。
這可讓您在桌上型電腦與筆記型電腦上使用軟體。

6.2.2  

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圖 6.5  授權檢視器 (只是範例影像)。

6.2.3  程序

6.3  啟動額外的軟體模組

6.3.1  一般

您可以從 FLIR Systems 購買某些軟體的額外模組。在您使用該模組前,必須先將之啟動。

6.3.2  

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圖 6.6  授權檢視器,顯示可用的軟體模組 (只是範例影像)。

6.3.3  程序

7  登入

7.1  一般

首次啟動 FLIR Report Studio 時,您必須以 FLIR 客戶支援帳戶登入。如果您目前已有 FLIR 客戶支援帳戶,可以使用相同的登入認證。
  • 當您登入時,您的電腦必須具有網際網路存取能力。
  • 除非您登出,否則使用 FLIR Report Studio 時無須再次登入。

7.2  登入程序

請執行以下程序:

7.3  登出

通常不需要登出。若您登出,即須再次登入才能啟動 FLIR Report Studio

請執行以下程序:

8  工作流程

8.1  一般

在進行紅外線檢測時,您需要按照典型工作流程執行。本節提供紅外線檢測工作流程的範例。

9  建立紅外線報告

9.1  一般

FLIR Report Studio 精靈能讓您輕鬆並有效率地產生報告。此精靈讓您能在報告建立之前微調並調整報告。您可以選擇不同的報告範本、新增影像、編輯影像、上下移動影像並新增報告屬性,例如客戶資訊和檢測的相關資訊。
使用 FLIR Report Studio 精靈是建立報告最簡便的方式。不過,您也可以從空白 Microsoft Word 文件建立報告,方式是新增及移除物件,並依照 12.2 管理報告中的物件 一節所述方法修改物件屬性。

9.2  報告類型

使用 FLIR Report Studio 精靈,您可建立下列報告類型:
FLIR Report Studio 隨附數個報告範本。您也可以建立自己的範本,請參閱 13 建立報告範本 一節。

9.3  FLIR Report Studio‎ 精靈螢幕元素

9.3.1  範本視窗

9.3.1.1  

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9.3.1.2  說明

9.3.2  影像視窗

9.3.2.1  

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9.3.2.2  說明

9.3.3.1  檔案功能表

檔案功能表包含下列指令:
  • 儲存工作階段。按一下以儲存工作階段。如需更多資訊,請參閱 9.5 儲存工作階段 一節。
  • 載入工作階段。按一下以載入工作階段。如需更多資訊,請參閱 9.5 儲存工作階段 一節。
  • 結束。按一下以結束 FLIR Report Studio 精靈。這時會關閉應用程式,所有未儲存的工作也將遺失。

9.3.3.2  選項功能表

選項包含下列指令:
  • 設定。按一下以顯示選項對話方塊。如需更多資訊,請參閱 9.6 變更設定 一節。

9.3.3.3  說明功能表

說明包含下列指令:
  • 文件。按一下並選擇線上即可從網際網路檢視最新說明檔案,或離線以檢視電腦上安裝的說明檔案。
  • FLIR 商店。按一下以前往 FLIR 商店網站。
  • FLIR 支援中心。按一下以前往 FLIR 支援中心。
  • 授權資訊。按一下以顯示授權檢視器
  • 驗證 FLIR 授權。(若您尚未啟動 FLIR Report Studio 授權,則會啟用。) 按一下以開啟啟動對話方塊。如需更多資訊,請參閱 6 管理授權 一節。
  • 檢查更新。按一下以檢查軟體更新。如需更多資訊,請參閱 15 軟體更新 一節。
  • 關於。按一下以顯示 FLIR Report Studio 目前的版本。

9.4  程序

請執行以下程序:

9.5  儲存工作階段

工作階段意指儲存在 FLIR Report Studio 精靈中尚未完成的報告。您可在 FLIR Report Studio 精靈中載入已儲存的工作階段,並在稍後繼續使用報告。
請在 FLIR Report Studio 精靈中,執行下列操作:
  • 若要儲存工作階段,選擇檔案 > 儲存工作階段
  • 若要載入工作階段,選擇檔案 > 載入工作階段

9.6  變更設定

您可以變更 FLIR Report Studio 精靈的設定。

請執行以下程序:

10  從熱像儀匯入影像

10.1  一般

您可以從連接至電腦的熱像儀匯入影像。

10.2  匯入程序

請執行以下程序:

11  分析及編輯影像

11.1  一般

FLIR Report StudioImage Editor 是分析及編輯熱影像的強大工具。
以下是您可以嘗試的一些功能和設定:
  • 新增測量工具。
  • 調整熱影像。
  • 變更色彩分佈。
  • 變更色譜。
  • 變更影像模式。
  • 使用顏色警報與等溫線。
  • 變更測量參數。

11.2  啟動 Image Editor‎

您可以從 FLIR Report Studio 精靈和從 FLIR Word Add-in 啟動 Image Editor

11.2.1  從 FLIR Report Studio‎ 精靈啟動 Image Editor‎

請執行以下程序:

11.2.2  從 FLIR Word Add-in‎ 啟動 Image Editor‎

您可以從可編輯紅外線報告啟動 Image Editor

請執行以下程序:

11.3  Image Editor‎ 螢幕元素

11.3.1  

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11.3.2  說明

11.4  基本影像編輯功能

11.4.1  旋轉影像

請執行以下程序:

11.4.2  裁切影像

您可以裁切影像並將已裁切影像另存為原始影像複本。

請執行以下程序:

11.5  使用測量工具

11.5.1  一般

若要測量溫度,您可以利用一或多項測量工具,例如點、方框、圓圈或線。
當您將測量工具新增至影像時,測得的溫度將會顯示在 Image Editor 右側窗格中。工具設定也會儲存至影像檔案,測得的溫度也可顯示在紅外線報告中。

11.5.2  新增測量工具

請執行以下程序:

11.5.3  移動測量工具並調整其大小

請執行以下程序:

11.5.4  為測量工具建立區域標記

11.5.4.1  一般

Image Editor 會針對熱像儀中設定的測量工具採用任何現有的標記。然而,當您在分析影像時,有時可能會想要新增標記,此時您可以使用區域標記來實現此目的。

11.5.4.2  程序

請執行以下程序:

11.5.5  計算面積

11.5.5.1  一般

可將影像參數資料包含的距離作為面積計算的基礎。典型的用途是估計牆上的潮濕污點大小。
若要計算表面的面積,需要將方框或圓圈測量工具新增至影像。Image Editor 可計算方框或圓圈工具所含括之表面的面積。計算結果是根據距離值預估的表面面積。
11.5.5.1.1  程序

請執行以下程序:

11.5.5.1.2  計算長度
11.5.5.1.2.1  一般
可將影像參數資料包含的距離作為長度計算的基礎。
若要計算長度,需要將線測量工具新增至影像。Image Editor 會根據距離值計算線長度的估計值。
11.5.5.1.2.1.1  程序

請執行以下程序:

11.5.6  設定溫差計算

11.5.6.1  一般

溫差計算提供兩種溫度間的溫差 (差量) - 例如影像中兩個點,或一個點與最高溫度之間。

11.5.6.2  程序

11.5.6.2.1  程序

請執行以下程序:

11.5.7  刪除測量工具

請執行以下程序:

11.6  調整紅外線影像

11.6.1  一般

熱影像可手動或自動調整。
Image Editor 中,您可以手動變更溫標中的最高和最低溫階。如此可更輕鬆分析影像。例如,您可以將溫標值變更為接近影像中特定物件的溫度。這樣即可偵測所需影像區域的異常狀況與較小的溫差。
自動調整影像時,Image Editor 會將影像自動調整為最佳的亮度和對比度。這表示顏色資訊會在現有影像溫度上均勻分佈。
在某些情況下,影像在您所需區域以外之處,可能會包含非常熱或非常冷的區域。如有此情形,在自動調整影像時,您可排除該區域,而僅使用您所需區域溫度的顏色資訊。您可透過定義自動調整區域達成此目的。

11.6.2  範例 1

這是同一座建築物的兩個紅外線影像。左邊為自動調整影像,晴空與受熱建築物之間的大溫寬很難提供正確分析。如果將溫標的值變更為接近建築物溫度,便可以更詳細地分析建築物。
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自動
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手動

11.6.3  範例 2

這是同一電源線斷路器的兩個紅外線影像。為方便分析斷路器的溫度變化,右邊影像的溫標已變更為接近斷路器溫度的值。
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自動
Graphic
手動

11.6.4  變更溫階

請執行以下程序:

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11.6.5  自動調整影像

請執行以下程序:

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11.6.6  定義自動調整區域

自動調整區域會將溫標中的最高和最低溫階設定為該區域中的最高和最低溫度。透過只對相關溫度使用顏色資訊,您可以在所需區域中取得更多詳細資料。

請執行以下程序:

11.7  變更色彩分佈

11.7.1  一般

您可變更影像中的色彩分佈。不同的色彩分佈可讓您更輕鬆地徹底分析影像。

11.7.2  定義

您可就下列色彩分佈進行選擇:
  • 溫度線性:這是一種可將影像中的顏色資訊線性分佈到像素溫度值的影像顯示方法。
  • 直方圖等化:這是一種會在現有影像溫度上均勻分佈顏色資訊的影像顯示方法。這種分佈資訊的方法對於包含少數極高溫度峰值的影像非常適用。
  • 訊號線性:這是一種可將影像中的顏色資訊線性分佈到像素訊號值的影像顯示方法。
  • 數位細節強化:這是一種強化影像中的高頻率內容 (例如邊緣和角落) 以提高細節可見度的影像顯示方法。

11.7.3  程序

請執行以下程序:

11.8  變更色譜

11.8.1  一般

您可以變更用來顯示影像內不同溫度的色譜。不同的色譜可讓影像的分析更為容易。

色譜

影像範例

北極
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冷色
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灰色
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熔岩
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彩虹
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彩虹高對比
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暖色
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11.8.2  程序

請執行以下程序:

11.9  變更影像模式

11.9.1  一般

對於某些影像,您可變更其影像模式。

11.9.2  影像模式類型

影像模式

影像範例

紅外線 MSX (多光譜動態成像):此模式可顯示物件邊緣增強的熱影像。熱/相片平衡可以調整。
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紅外線:此模式可顯示完整的熱影像。
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熱融合:此模式會顯示數位相片,但有部分會以紅外線顯示 (視溫度限制而定)。
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熱混合:熱像儀顯示使用混合紅外線像素與數位相片像素的混合影像。熱/相片平衡可以調整。
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子母畫面:此模式會在數位相片上顯示熱影像畫面。
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數位熱像儀:此模式會顯示完整的數位相片。
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11.9.3  程序

請執行以下程序:

11.10  使用彩色警報與等溫線

11.10.1  一般

使用顏色警報 (等溫線),就能輕易發現熱影像中的異常情形。等溫線指令會將對比色套用至高於、低於或介於設定的溫階區間之所有像素。也有建築業專用的警報類型:濕度與隔熱警報。
您可選擇以下顏色警報類型:
  • 高於警報:這可對高於指定溫階以上的所有像素套用對比色。
  • 低於警報:這可對低於指定溫階以下的所有像素套用對比色。
  • 區間警報:這可對介於兩種指定溫階之間的所有像素套用對比色。
  • 濕度警報:當偵測到表面相對濕度超過預設值時,會觸發此警報。
  • 隔熱警示:當牆上存在隔熱缺陷時會觸發此警報。
  • 自訂警報:這個警報類型可讓您手動修改標準警報的設定。
已啟動顏色警報的設定參數會顯示在右側窗格的警報中。
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11.10.2  影像範例

本表提供不同的彩色警報 (等溫線)。

顏色警報

影像

高於警報
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低於警報
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區間警報
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濕度警報
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隔熱警示
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11.10.3  設定高於與低於警報

請執行以下程序:

11.10.4  設定區間警報

請執行以下程序:

11.10.5  設定濕度警報

11.10.5.1  一般

濕度警報 (等溫線) 可以偵測有長霉風險,或是濕氣可能凝結成液態水 (如露點) 的區域。

11.10.5.2  程序

請執行以下程序:

11.10.6  設定隔熱警報

11.10.6.1  一般

隔熱警報 (等溫線) 可以偵測到建築中存在隔熱缺陷的區域,當隔熱水平低於建築物能量洩漏的預設值時 (也就是熱指標),將會觸發隔熱警報。
不同建築規範會建議使用不同的熱指標,但新建築的值一般為 0.6–0.8。請參考您當地的建築規範,以採用建議值。

11.10.6.2  程序

請執行以下程序:

11.10.7  設定自訂警報

11.10.7.1  一般

自訂警報可為下列任何類型的警報:
  • 高於警報
  • 低於警報
  • 區間警報
  • 濕度警報
  • 隔熱警報
相較於使用標準警報,您可以針對該等自訂警報手動指定多種不同的參數:
  • 背景
  • 顏色 (半透明或單色)。
  • 反轉間隔 (僅適用於 間隔 等溫線)。

11.10.7.2  程序

請執行以下程序:

11.11  變更測量工具的本機參數

11.11.1  一般

為了準確測量,您必須設定測量參數。與影像一起儲存的測量參數會顯示在右側窗格的參數中。
在某些情況下,您可能只想變更一項測量工具的一個測量 (物件) 參數。這麼做的原因可能是由於測量工具位於反射性表面的前方,且該表面的反射性遠比影像中的其他表面更高,或是由於測量工具所在之物件比影像中其他物件更遠等。
有關物件參數的更多資訊,請參閱 18 溫度記錄測量技術 一節。
當測量工具啟用本機參數時,會使用下列指示器:
  • 在影像中,測量工具旁會顯示星號 (*)。
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  • Image Editor 的結果表格中,測量值旁會顯示圖示。
    Graphic
  • 在紅外線報告的結果欄位和表格中,會顯示星號 (*),且本機參數值會包含在括弧中。
    Graphic

11.11.2  程序

請執行以下程序:

11.12  使用註解

11.12.1  一般

您可使用註解功能將紅外線影像連同附加資訊一起儲存。註解功能可提供影像基本資訊 (例如影像拍攝位置的狀況與資訊),讓報告和後期處理更有效率。
一些熱像儀讓您可以直接在熱像儀中新增註解,例如說明 (影像描述)、文字、語音和草圖註解。這些註解 (若有) 會顯示在 Image Editor 的右側窗格中。您也可以使用 Image Editor 將說明 (影像描述) 和文字註解新增到影像中。

11.12.2  關於影像描述

11.12.2.1  什麼是影像描述?

影像描述為自由格式的簡短文字描述,儲存在紅外線影像檔案中。其在 *.jpg 檔案格式中使用標準標記,並可使用其他程式來擷取。
Image EditorFLIR 熱像儀中的影像描述稱為說明
11.12.2.1.1  程序

11.12.3  關於文字註解

11.12.3.1  什麼是文字註解?

文字註解是關於影像內某事物的文字資訊,由一組「資訊對」—標籤所組成。使用文字註解的原因是藉此提供關於影像的基本資訊,如狀況、相片以及拍攝位置的資訊,讓報告和後期處理更有效率。
文字註解是 FLIR Systems擁有智慧財產權的註解格式,並且無法使用其他廠商的軟體擷取該等資訊。此概念極為仰賴與使用者的互動。在熱像儀中,使用者可從數個值中為每個標記擇一。使用者還可以輸入數值,讓文字註解從螢幕擷取測量值。

11.12.3.2  為影像建立文字註解

請執行以下程序:

12  在 Microsoft Word‎ 環境中工作

12.1  FLIR Word Add-in‎ 螢幕元素

12.1.1  FLIR 標籤

FLIR Report Studio 安裝好之後,FLIR 標籤會顯示在 Microsoft Word 文件功能區中,標準標籤的右側。
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12.1.2  設定功能表

設定功能表包含下列指令:
  • 更新頁碼。按一下以為影像相關欄位更新頁碼。
  • 設定單位。按一下以設定偏好溫度和距離單位。如需更多資訊,請參閱 12.9 變更設定 一節。
  • 範本類別。(可在建立報告範本時使用。) 按一下以選擇報告範本的類別。如需更多資訊,請參閱 13.2.5 選擇範本類別 一節。
  • 說明。按一下以顯示說明功能表,請參閱 12.1.2.1 說明功能表 一節。

12.1.2.1  說明功能表

說明包含下列指令:
  • 文件。按一下並選擇線上即可從網際網路檢視最新說明檔案,或離線以檢視電腦上安裝的說明檔案。
  • FLIR 商店。按一下以前往 FLIR 商店網站。
  • FLIR 支援中心。按一下以前往 FLIR 支援中心。
  • 授權資訊。按一下以顯示授權檢視器
  • 檢查更新。按一下以檢查軟體更新。如需更多資訊,請參閱 15 軟體更新 一節。
  • 關於。按一下以顯示 FLIR Word Add-in 目前的版本。

12.2  管理報告中的物件

12.2.1  General

報告範本包含熱影像、數位相片、表格、報告屬性等物件的預留位置。
在您根據報告範本建立報告時,這些預留位置會根據您選擇要包含在報告中的影像自動填入。您也可以插入其他物件,並於 Microsoft Word 中開啟報告後再修改物件屬性,如以下章節所述。
請參閱 13 建立報告範本 一節,在您建立自己的報告範本時,可依照以下幾節插入物件並定義其屬性。

12.2.2  插入熱影像物件

熱影像物件為預留位置,可在建立報告後,自動載入熱影像。

請執行以下程序:

12.2.3  插入數位影像物件

數位影像物件為預留位置,可供與熱影像關聯的可見光影像使用。

請執行以下程序:

12.2.4  插入欄位物件

12.2.4.1  一般

欄位物件為預留位置,可在建立報告後,自動顯示與熱影像關聯的資訊。
欄位物件包含標籤和值,例如 Bx1 平均 42.3 。您可選擇僅在報告中顯示值,例如 42.3

12.2.4.2  程序

請執行以下程序:

12.2.5  插入表格物件

12.2.5.1  一般

表格物件為預留位置,可在建立報告後,自動顯示表格,其中包含與熱影像關聯的特定資訊。
可以使用以下表格物件:
  • 測量。
  • 參數。
  • METERLiNK。
  • 地理位置。
  • 熱像儀資訊。
  • 檔案資訊。
  • 文字註解。
  • 說明。
  • 公式。
除了內建表格物件,您可以建立自己的表格物件。如需更多資訊,請參閱 12.2.5.3 建立自訂表格物件 一節。
您也可以插入插入匯總表格,包括報告中所有紅外線影像的相關資訊。如需更多資訊,請參閱 12.2.5.4 插入匯總表格 一節。

12.2.5.2  插入表格物件

請執行以下程序:

12.2.5.3  建立自訂表格物件

若內建表格物件不符合您的需求,則可以建立自己的表格物件。

請執行以下程序:

12.2.5.4  插入匯總表格

匯總表格物件為預留位置,可自動顯示表格,其中包含報告中所有熱影像的特定資訊。

請執行以下程序:

12.2.6  插入報告屬性物件

報告屬性物件為預留位置,可在建立報告後,自動顯示客戶資訊和檢測的相關資訊。

請執行以下程序:

12.2.7  調整物件的大小

12.2.7.1  調整影像物件的大小

請執行以下程序:

12.2.7.2  調整表格物件的大小

請執行以下程序:

12.2.8  取代影像

您可以取代報告中的影像,同時保留其他物件的所有連接。

請執行以下程序:

12.2.9  刪除物件

12.2.9.1  刪除影像物件

請執行以下程序:

12.2.9.2  刪除欄位物件

請執行以下程序:

12.2.9.3  刪除表格物件

請執行以下程序:

12.3  編輯影像

您可使用 FLIR Report StudioImage Editor 直接從報告編輯熱影像。

請執行以下程序:

12.4  使用公式

12.4.1  一般

FLIR Word Add-in 可以讓您對紅外線影像中的多種項目進行進階計算。一個公式可以包含所有常見的數學運算子和函數 (+、–、×、÷ 等),同時也可以使用數學常數,如 π。
最重要的是,根據測量結果,可以將其他公式和其他數學資料插入公式。
您建立的公式將可在 FLIR Word Add-in 中使用,並可插入未來報告的欄位和表格物件中。
您可將公式匯出至文字檔案。例如,這個文字檔案可以傳送至其他電腦,匯入後即可在該電腦上的 FLIR Word Add-in 中使用。如需更多資訊,請參閱 12.4.4 匯出及匯入公式 一節。
  • 一個公式只能用於操作一個紅外線影像,例如,不能計算兩個紅外線影像之間的差異。
  • 您能將紅外線影像中的任何現有 METERLiNK 資料,作為公式中的值使用,此和使用紅外線測量值的方式相同。您可以將外部的 FLIR/Extech 量測儀 (例如鉗表或濕度計) 與紅外線熱像儀搭配使用,以將 METERLiNK 資料儲存於紅外線影像中。

12.4.2  建立簡單公式

建立可計算兩個點之間之溫度差異的公式

12.4.3  建立條件公式

舉例來說,對於某些應用程式,若計算結果比閥值小,您可以用綠色字型顏色來顯示結果,若計算結果比閥值大,則可用紅色字型顏色來顯示結果。您可以使用 IF 陳述式來建立條件公式以實現此目的。
以下程序說明您如何將顯示溫度差異公式結果的條件公式設定為以紅色 (如果值大於 2.0 度) 或綠色 (如果值小於 2.0 度) 顯示結果。

使用 IF 陳述式建立條件公式

12.4.4  匯出及匯入公式

您可將一或多個公式匯出至文字檔案。例如,這個文字檔案可以傳送至其他電腦,然後匯入至在該電腦上的 FLIR Word Add-in

12.5  文件內容

12.5.1  一般

在建立紅外線報告時,FLIR 程式會為報告範本擷取 Microsoft Word 文件屬性,並將這些屬性插入最終報告的相應 Microsoft Word 欄位中。
建立報告時,您可以使用這些文件屬性自動執行數個耗時的工作。例如,您可能希望能自動新增資訊,例如名稱、地址、檢測位置的電子郵件地址、您使用的熱像儀型號名稱,以及您的電子郵件地址。
另請參閱 12.2.6 插入報告屬性物件 一節。

12.5.2  文件內容的類型

有兩個不同類型的文件內容:
  • 摘要文件內容。
  • 自訂文件內容。
對於前者,您只能變更值,但對於後者,您可以變更標籤和值。

12.5.3  建立和編輯 Microsoft Word‎ 文件屬性

建立和編輯文件內容

12.6  建立報告

您可使用 FLIR Report Studio 精靈輕鬆並有效率地建立紅外線報告。

請執行以下程序:

12.7  匯出報告

在將紅外線報告傳送至用戶端前,您可以使用下列其中一種格式匯出:
  • 一般 DocX:這會將報告匯出為字尾包含「_一般」的一般報告。一般報告仍可使用一般 Microsoft Word 功能進行編輯,但已無法管理影像、欄位和表格物件。
  • PDF:這會以非可編輯的 PDF 報告格式匯出報告。

請執行以下程序:

12.8  建立報告範本

您可以使用 FLIR Report StudioTemplate Editor 建立自己的報告範本。

請執行以下程序:

12.9  變更設定

您可以變更溫度和距離單位的設定。

請執行以下程序:

12.10  說明功能表

說明功能表包含支援與訓練來源、授權資訊、檢查更新等的連結。
說明功能表可在 FLIR 標籤上的設定中使用。

13  建立報告範本

13.1  一般

FLIR Report Studio 隨附數種不同的報告範本 (Microsoft Word *.dotx 檔案)。若這些範本不符合您的需求,您可以建立自己的自訂紅外線報告範本。

13.1.1  報告範本多還是少?

一個特定的客戶一律使用一個特定的範本相當常見。如果是這種情況,您可能需要在範本中包括客戶的公司特定資訊,而不是在產生紅外線報告後手動輸入。
不過,如果使用一個或少數幾個範本就能為您多位客戶建立紅外線報告,則公司特定資訊可能不應包括在範本中,因為您可以在產生報告後,輕鬆輸入此類資訊。

13.1.2  典型結構

紅外線報告範本通常包含以下類型的區段:
  • 簡介:封面,可包含公司標誌與企業識別元素、報告標題、客戶的名稱與地址、匯總表格以及您可能要包括在內的所有其他圖檔或資訊等。
  • 資料:多個不同內容的頁面,包含熱影像物件、數位影像物件、欄位物件、表格物件等。包含不同內容類型的多個資料區段,例如「僅紅外線」、「僅可見光」、「兩個紅外線」和「兩個紅外線 + 可見光」。
  • 最終:您的結論、建議、診斷和匯總說明。

13.1.3  關於在 Microsoft Word‎ 環境中工作的注意事項

由於 FLIR Word Add-inMicrosoft Word 的外掛程式,您在建立 Microsoft Word 文件範本時經常使用的現有功能,都可以在建立報告範本時使用。
FLIR Word Add-in 會新增一些紅外線成像和報告領域專用的指令。這些指令可在 FLIR 標籤存取。您可以在建立紅外線報告範本時結合常用的 Microsoft Word 功能使用這些功能。

13.2  建立自訂紅外線報告範本

您可以不同的方法建立報告範本:
  • 自訂基本的報告範本。
  • 修改現有的報告範本。

13.2.1  自訂基本的報告範本

請執行以下程序:

13.2.2  修改現有的範本 - 從 FLIR Word Add-in‎ 開始

請執行以下程序:

13.2.3  修改現有的範本 - 從 FLIR Report Studio‎ 精靈開始

請執行以下程序:

13.2.4  新增多個資料區段

您可使用不同內容類型將一或多個新資料區段新增至報告範本,例如「僅紅外線」、「僅可見光」、「兩個紅外線」和「兩個紅外線 + 可見光」。
當在 FLIR Report Studio 精靈中使用包含多個資料區段的範本時,會顯示下拉式清單,讓您可選擇要新增影像的目標區段,請參閱 9.3.2 影像視窗 一節。

請執行以下程序:

13.2.5  選擇範本類別

您可以針對報告範本選擇一或多個類別。
當儲存並匯入至 FLIR Report Studio 精靈時,報告範本將會顯示在精靈左側窗格的所選類別下,請參閱 9.3.1 範本視窗 一節。

請執行以下程序:

14  支援的檔案格式

14.1  輻射計數據檔案格式

FLIR Report Studio 支援以下含輻射計數據的檔案格式:
  • FLIR Systems 輻射計數據 *.jpg.

14.2  非輻射計數據檔案格式

FLIR Report Studio 支援以下非輻射計數據檔案格式:
  • *.jpg.
  • *.mp4 (影片檔)。
  • *.avi (影片檔)。
  • *.pdf (報告)。
  • *.docx (報告)。
  • *.dotx (如範本)。

15  軟體更新

15.1  一般

您可使用最新的服務套件更新 FLIR Report Studio。這可從 FLIR Report Studio 精靈及從 FLIR Word Add-in 中完成。

15.2  程序

請執行以下程序:

16  關於 FLIR Systems

FLIR Systems 始建於 1978 年,是高效能紅外線影像系統開發方面的先驅,也是紅外線影像系統設計、製造和行銷方面的全球領導者,所生產的設備廣泛地應用於商業、工業以及政府等領域。至今 FLIR Systems 包括自 1958 年起,即在紅外線技術方面卓然有成,夙負盛名的五家公司 — 瑞典的 AGEMA Infrared Systems (前身為 AGA Infrared Systems)、三家美國公司:Indigo SystemsFSIInframetrics,以及法國公司 Cedip。
自 2007 年起,FLIR Systems 更收購了數間在探測器技術領域具備世界領導級專業技能的探測器技術公司,包括:
  • Extech Instruments (2007)
  • Ifara Tecnologías (2008)
  • Salvador Imaging (2009)
  • OmniTech Partners (2009)
  • Directed Perception (2009)
  • Raymarine (2010)
  • ICx Technologies (2010)
  • TackTick Marine Digital Instruments (2011)
  • Aerius Photonics (2011)
  • Lorex Technology (2012)
  • Traficon (2012)
  • MARSS (2013)
  • DigitalOptics 微光學企業 (2013)
  • DVTEL (2015)
  • Point Grey Research (2016)
  • Prox Dynamics (2016)
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圖 16.1  自 1960 年代初期以來的專利文件

FLIR Systems 已經在美國建立了三家製造工廠 (分別位於俄勒岡州的波特蘭,麻塞諸塞州的波士頓,加利福尼亞州的聖塔芭芭拉),並在瑞典的斯德哥爾摩也有一家工廠。同時從 2007 年起,也在愛沙尼亞的塔林設有一家製造工廠。我們在比利時、巴西、中國、法國、德國、英國、香港、義大利、日本、韓國、瑞典以及美國設立的直銷機構,配合全球的代理和分銷商網路,服務我們的國際客戶。
FLIR Systems 引領著紅外線熱像儀業界的創新潮流。我們透過不斷改進現有的熱像儀產品並開發新的型號,搶先一步滿足市場的需要。公司在產品設計和開發領域已經達成眾多里程碑,例如,為工業檢測領域引入了第一台使用電池的攜帶型熱像儀,第一台非致冷紅外線熱像儀,這還只是其中的兩項創新而已。
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圖 16.2  1969 年:Thermovision 661 型。這款熱像儀重量大約 25 公斤,,示波器重 20 公斤,三腳架重 15 公斤。操作員還需要一個 220 VAC 的發電機裝置和一桶 10 公升的液態氮。您可以在示波器左邊看到連接的拍立得 (Polaroid) 裝置 (6 公斤)。

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圖 16.3  2015 年:FLIR One,適用於 iPhone 和 Android 手機的配件。重量:90 克。

FLIR Systems 可以自行生產熱像儀系統中所有主要的機械和電子元件。從感測器的設計、鏡頭和系統電子零件的製造,到最終的測試和校準,所有生產步驟都是在我們自己工程師的參與和監督下完成的。來自這些紅外線專家們的精深專業知識確保了您手上熱像儀中所有元件的精密度和可靠性。

16.1  這不僅僅是紅外線熱像儀

FLIR Systems 中,我們意識到我們的工作不僅僅是生產最好的紅外線熱像儀系統。我們致力提供所有紅外線熱像儀系統用戶強大的熱像儀及軟體組合,讓他們擁有更高的生產效率。特別值得一提是,專為預知保養、研發和流程監控量身定製的軟體,全部都是在內部開發完成。多數軟體都有眾多的語言可供選擇。
我們為我們的所有紅外線熱像儀提供了眾多的附件,讓您的設備可以使用於最苛刻的紅外線應用領域。

16.2  分享我們的知識

儘管我們的熱像儀都採用了對用戶非常友好的設計,但是除了掌握熱像儀的操作以外,還有許多熱成像方面的專業知識需要瞭解。因此,FLIR Systems 建立了紅外線培訓中心 (ITC),這是一個獨立的業務培訓機構,可以提供已獲認證的訓練課程。參加 ITC 課程的訓練,可以讓您學到真正的實務知識。
當您在實務上應用紅外線理論時,ITC 的專業人員還可為您提供任何可能需要的應用技術支援。

16.3  對我們客戶的支援

FLIR Systems 經營著一個世界範圍的服務網路,用來保證您熱像儀的全時工作。如果您的熱像儀出現故障,當地的服務中心擁有在最短時間內排除故障所需的所有設備和專業知識。從而完全避免了諸如將熱像儀送往世界的另一端進行維修,或是不得不與操不同語言的人打交道的尷尬。

17  詞彙、定律和定義

詞彙

定義

傳導
在分子之間直接傳遞熱能,成因來自於分子碰撞
入射輻射
從周圍環境傳至物體的輻射
出射輻射
離開物體表面的輻射,不論其原始來源為何
反射表象溫度
目標所反射進入紅外線熱像儀中的環境表象溫度1
吸收及放射2
物體吸收入射輻射能量的能力一律與放射其自有輻射能量的能力相同
定性熱成像
仰賴熱模式分析顯示出異常情形的存在並找出其位置的熱成像3
定量熱成像
使用溫度測量來判斷異常情形嚴重程度的熱成像,以建立維修優先順序4
對流
為液體流動的一種傳熱方式,透過地心引力或另一種力量,將熱自某地傳遞至另一地
放射率
為實體輻射功率在相同溫度和相同波長條件下與黑體輻射功率的比率5
溫度
組成物質之分子及原子平均動能的測量
為兩個物體 (系統) 之間因為其溫度差所傳輸的熱能
熱傳方向6
熱能會主動從較高溫度流動至較低溫度,將熱能自某地傳遞至另一地7
熱傳遞率8
在穩定狀態條件下,熱傳遞率與物體的熱傳導、熱能流經之物體的截面積和物體兩端之間的溫度差成正比;並與物體的長度或厚度成反比9
熱梯度
溫度因距離而產生的逐漸變化10
熱能
組成物體的總分子動能11
熱調節
將影像的顏色放在分析物體上以將對比最大化的程序
空間解析度
紅外線熱像儀解析小型物體或細節的能力
等溫線
採用對比色取代溫標中的特定顏色。這會標示出相等表象溫度的間隔12
紅外線熱成像
來自非接觸式熱成像裝置的熱資訊擷取及分析程序
能量守恆13
在封閉系統中能量含量的總和為常數
色譜
可指定不同的顏色來代表表象溫度的特定溫階。色譜可視當中使用的顏色來提供高或低對比
表象溫度
此為來自紅外線儀器的未補償讀數,包含儀器上所有輻射入射,不論其來源為何14
診斷
檢查症狀和症候群,以判斷錯誤或故障的本質15
輻射熱傳
透過熱輻射的放射及吸收來進行熱傳

18  溫度記錄測量技術

18.1  簡介

紅外線熱像儀會測量和成像物體放射的紅外線輻射。由於輻射是物體表面溫度的函數,因此熱像儀可以計算和顯示相關溫度。
然而,熱像儀測量出的輻射不只和物體溫度有關,也是發射率的函數。輻射也源自四周環境,並在物體中反射。來自物體的輻射和反射的輻射也會受到空氣吸收率的影像。
為了正確測量溫度,因此必須補償幾個不同輻射來源的效果。這由熱像儀在線上自動進行。然而,必須提供下列物體參數給熱像儀:
  • 物體放射率
  • 反射表象溫度
  • 物體和熱像儀之間的距離
  • 相對溼度
  • 大氣溫度

18.2  放射率

需要正確設定的最重要物件參數是放射率,簡言之,就是和相同溫度的完美黑體放射量相比,被測物件放射了多少輻射。
一般而言,物體材料和表面處理會顯出約介於 0.1 到 0.95 之間範圍的放射率。高度磨光 (鏡子) 的表面不超過 0.1,而氧化或塗漆的表面放射率較高。不論在可見光頻譜中是什麼色彩,油性漆的放射率在紅外線頻段中會超過 0.9。人體皮膚的放射率為 0.97 到 0.98。
未氧化的金屬則呈現極端性,幾乎是完全不透明,反射率也很高,而波長的差異則不大。因此金屬的放射率很低 – 只會隨溫度而增加。對非金屬而言,放射率通常滿高的,會隨溫度而降低。

18.2.1  找出一種樣本的放射率

18.2.1.1  步驟 1:確定反射表象溫度

使用以下兩種方法之一確定反射表象溫度:
18.2.1.1.1  方法 1:直接方法
您不能使用熱電耦來測量反射表象溫度,熱電耦雖然可測量溫度,但表象溫度卻是輻射強度
18.2.1.1.2  方法 2:反射片法

18.2.1.2  步驟 2:確定放射率

18.3  反射表象溫度

這一參數用於補償物體上反射的輻射。如果放射率很低並且物體溫度相對與反射的溫度相差很遠,則必須正確設定該參數用於補償反射表象溫度。

18.4  距離

距離指物體和熱像儀前面鏡頭之間的距離。這一參數補償以下兩種情況:
  • 來自目標的輻射被物體和熱像儀之間的空氣所吸收。
  • 來自空氣本身的輻射被熱像儀所檢測到。

18.5  相對濕度

熱像儀也可以補償根據大氣相對濕度進行的發射。若要這麼做,將相對溼度設定為正確的值。對於短距離和一般的溼度,相對溼度一般可以保留為預設值 50 %。

18.6  其他參數

此外,FLIR Systems 提供的一些熱像儀和分析程式讓您可以補償下列參數:
  • 空氣溫度 – 熱像儀和目標之間的空氣溫度
  • 外部光學溫度 – 熱像儀正面使用之任何外部鏡頭或視窗的溫度
  • 外部光學穿透率 – 熱像儀正面使用之任何外部鏡頭或視窗的穿透

19  紅外線技術的歷史

在西元 1800 年以前,人們尚未料想到電磁頻譜中有紅外線的部分。在 1800 年 Herschel 發現紅外線頻譜 (或通常僅稱為‘紅外線’) 這種熱輻射時,和目前比起來可能有更深遠的意義。
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圖 19.1  William Herschel 爵士 (1738–1822)

Herschel 在搜尋新的光學材料時無意間發現了紅外線。William Herschel 爵士是英皇喬治三世的御用天文學家,早就以發現天王星的存在而聞名,當時他想要找到一種光學過濾材料,好在觀察太陽時降低太陽在望遠鏡中影像的亮度。他測試了不同的彩色玻璃樣本,這些樣本降低亮度的效果都差不多,而 Herschel 好奇的是,有些樣本只傳遞少量的太陽熱度,而其他卻傳遞大量的熱量,讓他才觀察幾秒鐘就差點造成視力損壞。
很快 Herschel 就相信有必要進行系統化的研究,目標在於找出一種可以按需要降低亮度的材料,而且也可以儘量降低熱度。他開始實驗的做法是實際重複牛頓的稜鏡實驗,但他著眼於加熱效果,而不是頻譜中強度的視覺分佈。他先用墨水塗黑很敏感的玻管水銀溫度計,用來當作輻射感測器,然後讓陽光通過稜鏡,在桌面上形成頻譜,再測試頻譜中不同顏色的加熱效果。其他放在陽光射線範圍外的溫度計則做為對照物。
將塗黑的溫度計慢慢移過頻譜的顏色時,溫度讀數顯示從紫色端到紅色端會穩定升高。這並不是全新的發現,因為義大利的科學家 Landriani 在 1777 年的類似實驗中就觀察到同樣的效果。不過 Herschel 卻是第一個認定加熱效果在某處一定會達到最大值的人,而限制在頻譜可見光部分內的測量法就無法找到這個地方。
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圖 19.2  Marsilio Landriani (1746–1815)

Herschel 把溫度計移到頻譜紅色端以外的黑色區域時,確定溫度仍繼續增加。他找到最大值的點在紅色端的外面 – 這個區域就是今日所謂的「紅外線波長」。
當 Herschel 展示他的發現時,他把電磁頻譜這個新的部分稱為「溫度頻譜」。。而輻射本身則稱為「黑熱」或單單「不可見光」。而諷刺的是,和大多數人的推論相反,「紅外線」這個詞不是 Herschel 發明的。大約在 75 年後,才開始在書本中看到這個詞,不過是誰發明的還是不清楚。
Herschel 的最初實驗使用稜鏡中的玻璃,讓同時代的人質疑紅外線波長是否存在。其他的研究者為了證明這個實驗,任意使用其他類型的玻璃,在紅外線中會有不同的透明度。Herschel 在之後的實驗中發覺玻璃對新發現熱輻射的透明度有限,不得不斷定紅外線光學可能只限於反射元素的使用 (也就是平面或曲面的鏡子)。還好這到了 1830 年才被證實,當時義大利科學家 Melloni 有了重大的發現,天然產生的岩鹽 (NaCl) – 可在天然結晶體中找到,這些結晶體夠大,可以製造鏡片和稜鏡 – 對於紅外線有明顯的透明度。結果,岩鹽成為主要的紅外線光學材料,其地位保持了幾百年不變,直到 1930 年代人們能夠掌握合成結晶體的培養技術為止。
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圖 19.3  Macedonio Melloni (1798–1854)

把溫度計當作輻射感測器的方法到了 1829 年才有變化,當年 Nobili 發明了熱電偶 (Herschel 自己的溫度計可以讀到 0.2 °C,而更新的型號可以讀到 0.05 °C)。之後出現了重大的突破;Melloni 串聯數個熱電偶形成了第一個溫差電堆。這個新裝置對於熱輻射的敏感度比當時最好的溫度計至少高出 40 倍 – 可以偵測到站在三公尺外某人發出的熱度。
第一個所謂的「熱圖」 在 1840 年成真,這是 John Herschel 爵士的工作成果,他的父親是發現紅外線的 William Herschel,而他自己也是有名的天文學家。把一層薄油暴露在聚焦其上的熱源模式時,油膜蒸發會產生差別性,因此就可以用反射光看到熱影像,這時油膜的干擾效果讓肉眼可以看到影像。John Herschel 也成功取得紙張上的熱影像原始記錄,他把這稱為「溫度記錄法」。
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圖 19.4  Samuel P. Langley (1834–1906)

紅外線感測器的敏感度改善的進展十分緩慢。另一個主要的突破要歸功於 Langley,他在 1880 年發明了輻射熱測定器。這個裝置包含一條塗黑的細鉑片,連接到惠斯登電橋電路的一支臂上,在其上會聚焦紅外線,並收到敏感檢流計的回應。這項儀器據說可以偵測到 400 公尺外的牛體溫度。
一名英國科學家 James Dewar 爵士首先開始在低溫研究中採用液化空氣當作冷卻劑 (例如溫度為 –196°C) 的液態氮)。他在 1892 年發明了獨特的真空絕緣容器,在其中可以把液化空氣保存好幾天。一般用來放冷熱飲的「保溫瓶」就是以他的發明為基礎。
在 1900 年到 1920 年之間,世界各地的發明家「發現了」紅外線。很多裝置紛紛申請專利,這些裝置可以偵測人員、大炮、飛機、船隻 – 或甚至冰山。就現代的觀點來看,最初的操作系統在第一次世界大戰期間開始發展,當時敵對的雙方都有專門研究紅外線軍事用途的計劃。這些計劃包含敵人侵入/偵測、遙遠溫度感應、安全通訊和「flying torpedo」飛彈制導的實驗性系統。在這段期間測試的紅外線搜尋系統可以偵測到 1.5 公里 外正在接近的飛機,或距離 300 公尺 以外的人。
當時最敏感的系統全都以輻射熱測定器的想法為基礎而變化,不過兩次大戰之間的期間發展出了兩項革新性新型紅外線感測器:影像轉換器和光子感測器。起初,影像轉換器最為軍隊所重視,因為首次在史上讓觀察員可以名副其實地「在黑暗中視物」。然而,影像轉換器的感受性限於最近的紅外線波長,而軍隊最在乎的目標 (也就是敵兵) 必須用紅外線搜尋光束照射。而這麼做的危險是觀察員的位置會暴露給有類似配備的敵方觀察員,因此軍方對於影像轉換器的興趣最後也就消逝無蹤。
在第二次世界大戰後,所謂「主動」(也就是配備搜尋光束) 熱影像成型系統的策略軍事負面條件促成許多秘密軍事紅外線研究計劃,探索是否有可能以非常敏感的光子感測器為中心,發展出「被動」(無搜尋光束) 的系統。在這段期間,軍事機密規定讓紅外線影像成型技術完全無法外流。到了 1950 年代中期,才開始解除這種機密規定,自此民用科學和產業才能開始使用適當的熱影像成型裝置。

20  溫度記錄理論

20.1  簡介

對很多使用紅外線熱像儀的人來說,他們並不熟悉紅外線輻射和溫度記錄的相關技術。本節將介紹溫度記錄背後的理論。

20.2  電磁頻譜

電磁頻譜隨意分成幾個稱為頻帶的波長區域,透過用來產生和偵測輻射的方法加以區分。電磁頻譜不同頻帶之間的輻射沒有基本差異。它們全都受到相同的定律支配,唯一的差異只在於波長的不同。
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圖 20.1  電磁頻譜:1:X 光;2:UV;3:可見光;4:紅外線;5:微波;6:無線電波。

溫度記錄法使用了紅外線頻譜頻帶。在範圍內波長較短的一端是視覺的極限,為深紅色。在波長較長的一端則併入微波無線電波長,其間的差異以公厘為單位。
紅外線頻帶通常會進一步細分成四個更小的頻帶,每個頻帶的範圍也是任意選擇的。包括:近紅外線 (0.75–3 μm)、中程紅外線 (3–6 μm)、遠紅外線 (6–15 μm),以及極端紅外線 (15–100 μm)。雖然波長以 μm (微米) 為單位,其他的單位仍常用來測量這個頻譜區域中的波長,例如奈米 (nm) 和 Ångström (Å)。
不同的波長測量法之間的關係是:
formula

20.3  黑體輻射

黑體的定義是:吸收照射其上任何波長之所有輻射的物體。根據 Kirchhoff 定律 (以 Gustav Robert Kirchhoff 的名字命名,1824–1887),說一件可發出輻射的物體為黑色很明顯是用詞不當。這個定律陳述能夠吸收任何波長之所有輻射的物體也有同等的輻射散發能力。
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圖 20.2  Gustav Robert Kirchhoff (1824–1887)

黑體來源的建構原則上相當簡單。在材質為不透明吸收材料的等溫線凹洞中的孔隙之輻射特質就幾乎完全是黑體的屬性。實際應用這個原則來建構完美輻射吸收體時,可以使用一個不透光的盒子,只在其中的一邊上有個孔隙。進入這個孔洞的輻射就會因重複反射而被消散和吸收,因此只有極微小的部分有可能逃脫。孔隙上產生的黑性質就幾乎等於黑體,也適用於所有的波長。
提供此類等溫凹洞和適當的加熱器時,就會變成所謂的凹洞輻射體。等溫凹洞加熱到一致的溫度時就會產生黑體輻射,其特性完全由凹洞的溫度決定。此類凹洞輻射體通常用來當作實驗室中溫度參考標準的輻射來源,以用於校準溫度記錄儀器,例如 FLIR Systems 熱像儀。
如果黑體輻射的溫度增加到超過 525°C,來源就開始成為可見的,從肉眼看來也不再是黑色。這是輻射體起初的紅熱溫度,溫度繼續增加時就會變成橙色或黃色。事實上,物體所謂的色彩溫度的定義是將黑體加熱成有相同外觀的溫度。
現在請考慮說明黑體散發之輻射的三個表達方式。

20.3.1  Planck 定律

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圖 20.3  Max Planck (1858–1947)

Max Planck (1858–1947) 能夠利用下面的公式說明來自黑體的輻射頻譜分佈:
formula
其中:
Wλb
在波長 λ 處的黑體頻譜輻射散發。
c
光速 = 3 × 108 m/s
h
Planck 的常數 = 6.6 × 10-34 Joule sec。
k
Boltzmann 的常數 = 1.4 × 10-23 Joule/K。
T
黑體的絕對溫度 (K)。
λ
波長 (μm)。
Planck 定律透過圖表標繪不同的溫度時,會產生一系列的曲線。在特定的 Planck 曲線後,頻譜散發在 λ = 0 時為零,然後快速增加到在波長 λmax 處的最大值,在波長很長的地方又再度接近零。溫度越高,出現最大值處的波長就越短。
Graphic

圖 20.4  根據 Planck 定律的黑體頻譜輻射散發,根據各種絕對溫度描繪。1:頻譜輻射散發 (W/cm2 × 103(μm));2:波長 (μm)

20.3.2  Wien 位移定律

藉由微分 Planck 關於 λ 的公式和找出最大值,我們可得到:
formula
這是 Wien 的公式 (根據 Wilhelm Wien 命名,1864–1928),其中用數學方式表達一般所觀察到當熱輻射體溫度增加時的色彩從紅色變成橙色或黃色的現象。色彩的波長和為 λmax 所計算的波長相同。套用基本原則 3 000/T μm,就可以取得指定黑體溫度 λmax 值不錯的近似值。因此,像天狼星 (11 000 K) 這種放射藍白光的高熱星球,會輻射出不可見紫外線頻譜中最高的頻譜輻射放射,波長為 0.27 μm。
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圖 20.5  Wilhelm Wien (1864–1928)

太陽 (約為 6 000 K) 會放射黃色光,最高峰在可見光頻譜中約為 0.5 μm 處。
在室溫 (300 K) 下,輻射放射的高峰在 9.7 μm 處,在遠紅外線中,如果在液態氮的溫度下 (77 K),在極端紅外線的波長中,幾乎不可察覺的輻射放射量之最大值在 38 μm。
Graphic

圖 20.6  標繪在半對數圖上的 Planck 曲線分佈在 100 K 到 1000 K 之間。虛線表示在每個溫度下最大輻射放射的軌跡,正如 Wien 位移定律中的描述。1:頻譜輻射放射 (W/cm2 (μm));2:波長 (μm)。

20.3.3  Stefan-Boltzmann 定律

藉由將 Planck 的公式從 λ = 0 整合到 λ = ∞,我們可以得到黑體的總輻射放射 (Wb):
formula
這是 Stefan-Boltzmann 公式 (根據 Josef Stefan (1835–1893) 和 Ludwig Boltzmann (1844–1906) 命名),陳述黑體的總放射功率和其絕對溫度的四次方成比例。透過圖表,Wb 表示特定溫度之 Planck 曲線下面的區域。可以顯示為間隔 λ = 0λmax 中的輻射放射只有全部的 25 %,代表太陽位於可見光頻譜中的輻射量。
Graphic

圖 20.7  Josef Stefan (1835–1893) 和 Ludwig Boltzmann (1844–1906)

在溫度為 300 K 及外部表面積約為 2 m2 的條件下,使用 Stefan-Boltzmann 公式來計算人體輻射的功率,我們會得到 1 kW。在室溫條件和人體差不多或穿上衣服時,如果沒有來自周圍表面的輻射補償吸收,這種功率流失可能不會持續。

20.3.4  非黑體放射極

到目前為止只討論了黑體輻射體和黑體輻射。然而,在延伸的波長區域中,實際物體幾乎從不遵循這些定律 – 即使在某些頻譜間隔中可能會和黑體的行為相近。例如,某種白漆在可見光頻譜中可能看起來是完美的白色,但約在 2 μm 處則清楚變成灰色,超過 3 μm 處則幾乎是黑色
可能會發生三個過程來防止實際物件產生黑體的行為:入射輻射的一部分 α 可能會被吸收、一部分 ρ 可能會被反射,而另一部分 τ 可能會傳播。由於這些係數或多或少都和波長有關,會使用下標符號 λ 表示其定義的頻譜相依性。因此:
  • 頻譜吸收比 αλ= 物體吸收的頻譜輻射功率和其上入射的比率。
  • 頻譜反射比 ρλ = 物體反射的頻譜輻射功率和其上入射的比率。
  • 頻譜穿透率 τλ= 透過物體投射的頻譜輻射功率和其上入射的比率。
這三個係數的總和必須在任何波長時加起來,因此我們可以得到這樣的關係:
formula
對於不透明材料 τλ = 0,而且關係可以簡化為:
formula
對於物體在特定溫度產生的黑體之輻射放射的部分 ε,則需要用另一個係數放射率來說明。因此,我們有了下面的定義:
頻譜放射率 ελ = 物體頻譜輻射功率在相同的溫度和波長條件下和黑體頻譜輻射功率的比率。
用數學表示時,可以寫成物體的頻譜放射和黑體的頻譜放射的比率,如下所示:
formula
一般而言,輻射來源有三種類型,利用每種頻譜放射差異的方式加以分別。
  • 對於黑體而言, ελ = ε = 1
  • 對灰體而言,ελ = ε = 常數小於 1
  • 選擇性輻射體,其 ε 的波長有差異
根據 Kirchhoff 定律,對任何材料來說,主體的頻譜放射率和頻譜吸收比在指定的溫度和波長下都是相等的。即為:
formula
從這裡我們知道,對不透明材料而言 (因為 αλ + ρλ = 1):
formula
對於高度拋光材料而言,ελ 會接近零,因此對於完全反射的材料 (完美的鏡子),我們會有:
formula
對於灰體輻射體來說,Stefan-Boltzmann 公式會變成:
formula
這個公式陳述,在相同的溫度和灰體 ε 值成比例減少的條件下,灰體的總放射功率和黑體相同。
Graphic

圖 20.8  三種輻射體的頻譜輻射放射。1:頻譜輻射放射;2:波長;3:黑體;4:選擇性輻射體;5:灰體。

Graphic

圖 20.9  三種輻射體的頻譜放射率。1:頻譜放射率;2:波長;3:黑體;4:灰體;5:選擇性輻射體。

20.4  紅外線半透明材料

請想像非金屬、半透明的主題 – 好比一塊很厚的塑膠材料。將塑膠板加熱時,在其容積內產生的輻射必須透過材料向表面移動,其間就會吸收部分的輻射。此外,在輻射到達表面時,其中一部分會被反射回內部。反射回去的輻射又被吸收一部分,但有一部分會到達另一面,大部分輻射會逸出;有一部分則會反射回去。雖然持續反射會變得越來越弱,搜查塑膠板的總放射量時仍需把它們加起來。計算所產生幾何級數序列的總和時,可用下面的方法取得半透明塑膠板的有效放射率:
formula
當塑膠板變成不透明時,這個公式會縮減為單一公式:
formula
最後一個關係尤其好用,因為測量反射比通常比直接測量放射率簡單。

21  測量公式

正如之前所提到的,檢視物體時,熱像儀不只接收來自物體本身的輻射。也會收集四周透過物體表面反射的輻射。這些輻射饋入會由測量路徑中的空氣而變弱。這裡又有來自空氣本身的第三種輻射饋入。
如下圖說明的這個測量狀況描述到目前為止都還滿傳神地說明實際的條件。而忽略的地方可能包括消散在空氣中的陽光,或在視野以外來自密集輻射來源的零星輻射。這些擾亂很難加以量化,然而,在大多數情況下因為量夠少,都可以加以忽略。在無法忽略的情況下,至少對經過訓練的操作者來說,測量設定可能會讓擾亂變得更明顯。然後操作者要負責修改測量狀況以避免擾亂,例如變更檢視方向、掩蓋密集輻射的來源等等。
接受上述說明後,我們可以用下圖衍生出公式,從校準的熱像儀輸出來計算物體溫度。
Graphic

圖 21.1  一般溫度記錄測量狀況的概要表示。1:環境;2:物體;3:空氣;4:熱像儀

假設短距離接收到的輻射功率 W 來自溫度為 Tsource 的黑體來源,這個功率會產生熱像儀輸出訊號 Usource,和功率輸出成比例 (功率線性熱像儀)。然後我們可以寫出 (等式 1):
formula
或者,使用簡化的概念:
formula
其中 C 是常數。
如果來源是放射率為 ε 的灰體,接收到的輻射就會是 εWsource
我們現在可以開始寫出三個所收集的輻射功率項:
現在可以寫出接收到的總輻射功率 (等式 2):
formula
我們用等式 1 的常數 C 乘每個項,按照相同的等式用對應的 CW 取代 U 產品,然後得到 (等式 3):
formula
Uobj 解出等式 3 (等式 4):
formula
這是在所有 FLIR Systems 溫度記錄設備中使用的一般測量公式。公式的電壓為:

表 21.1  電壓

Uobj
溫度為 Tobj 之黑體的計算熱像儀輸出,也就是可以直接轉換成真實所要求物體溫度的電壓。
Utot
實際案例的測量熱像儀輸出電壓。
Urefl
按照校準,溫度為 Trefl 之黑體的理論熱像儀輸出電壓。
Uatm
按照校準,溫度為 Tatm 之黑體的理論熱像儀輸出電壓。
操作者必須提供參數值的數字以用於計算:
  • 物體放射率 ε
  • 相對溼度、
  • Tatm
  • 目標距離 (Dobj)
  • 物體環境的 (有效) 溫度,或反射的空氣溫度 Trefl,及
  • 空氣溫度 Tatm
因為通常沒有簡單方法可以找到放射率和實際案例之空氣穿透率的正確值,所以這項工作有時對操作員來說可能是沉重的負擔。如果環境中沒有大型而密集的輻射來源,這兩個溫度一般不是很大的問題。
因此,大家很自然會問:知道這些參數的正確值到底有多重要?或許可以在這裡調查一些不同的測量案例,比較三個輻射項的相對重要性,來評估這個問題。這將能夠指出什麼時候一定要使用哪些參數的正確值。
下圖說明三種輻射饋入的相對重要性,針對三種不同物體溫度、兩種放射率和兩種頻譜範圍:SW 和 LW。剩餘的參數有下列的固定值:
  • τ = 0.88
  • Trefl = +20°C
  • Tatm = +20°C
很明顯的是低物體溫度的測量比測量高溫更為關鍵,因為「擾亂的」輻射來源在第一個案例中相對地更強。如果物體放射率很低,狀況就更加困難。
我們最後也需要解答可以在最高校準點上使用校準曲線的重要性問題,這個過程稱為外推法。假設我們在某種情況下測量 Utot = 4.5 伏特。熱像儀的最高校準點則在 4.1 伏特,但操作者不知道這個值。因此,即使物體碰巧是黑體,即 Uobj = Utot,將 4.5 伏特轉換為溫度時,我們實際上在執行校準曲線的外推法。
我們現在假設物體不是黑色,放射率為 0.75,穿透率為 0.92。我們也假設等式 4 兩個第二項加起來是 0.5 伏特。透過等式 4 計算 Uobj,得到的結果為 Uobj = 4.5/0.75/0.92 – 0.5 = 6.0。這是相當極端的外推法,特別是考慮到視訊放大器可能限制輸出為 5 伏特!但請注意,校準曲線的套用是個理論步驟,並沒有電子或其他形式的限制。我們相信如果熱像儀中沒有訊號限制,而且已經校準為遠超過 5 伏特,假設校準演算法像 FLIR Systems 演算法一樣以輻射物理學為基礎,產生的曲線就會很像我們外推到 4.1 伏特以外的實際曲線。當然此類外推法必須要有限制。
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圖 21.2  不同測量條件下輻射來源的相對值 (SW 熱像儀)。1:物體溫度;2:放射;Obj:物體輻射;Refl:反射輻射;Atm:空氣輻射。固定參數:τ = 0.88;Trefl = 20°C;Tatm = 20°C。

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圖 21.3  不同測量條件下輻射來源的相對值 (LW 熱像儀)。1:物體溫度;2:放射;Obj:物體輻射;Refl:反射輻射;Atm:空氣輻射。固定參數:τ = 0.88;Trefl = 20°C;Tatm = 20°C。

22  放射率表

本節匯集來自紅外線文獻和 FLIR Systems 特有測量法的放射率資料。

22.1  參考

22.2  表

表 22.1  T:總頻譜;SW:2–5 µm;LW:8–14 µm,LLW:6.5–20 µm;1:材料;2:規格;3:溫度 (°C);4:頻譜;5:放射率:6:資料參考

1

2

3

4

5

6

3M 35 型
乙烯絕緣膠帶 (多種顏色)
< 80
LW
≈ 0.96
13
3M 88 型
黑色乙烯絕緣膠帶
< 105
LW
≈ 0.96
13
3M 88 型
黑色乙烯絕緣膠帶
< 105
MW
< 0.96
13
3M Super 33+ 型
黑色乙烯絕緣膠帶
< 80
LW
≈ 0.96
13
Krylon Ultra-flat black 1602
均黑色
室溫最高至 175
LW
≈ 0.96
12
Krylon Ultra-flat black 1602
均黑色
室溫最高至 175
MW
≈ 0.97
12
Nextel Velvet 811-21 Black
均黑色
-60-150
LW
> 0.97
10 與 11
不鏽鋼
合金,8% Ni,18% Cr
500
T
0.35
1
不鏽鋼
噴砂處理的
700
T
0.70
1
不鏽鋼
薄板,未處理過,有點刮過的
70
SW
0.30
9
不鏽鋼
薄板,未處理過,有點刮過的
70
LW
0.28
9
不鏽鋼
薄板,磨光的
70
SW
0.18
9
不鏽鋼
薄板,磨光的
70
LW
0.14
9
不鏽鋼
軋製的
700
T
0.45
1
不鏽鋼
類型 18-8,拋光的
20
T
0.16
2
不鏽鋼
類型 18-8,氧化溫度 800°C
60
T
0.85
2
亮光漆
在橡木拼花地板上
70
SW
0.90
9
亮光漆
在橡木拼花地板上
70
LW
0.90-0.93
9
亮光漆
平均的
20
SW
0.93
6
亮漆
噴灑在鋁上的 3 種顏色
70
SW
0.50-0.53
9
亮漆
噴灑在鋁上的 3 種顏色
70
LW
0.92-0.94
9
亮漆
白色
100
T
0.92
2
亮漆
白色
40-100
T
0.8-0.95
1
亮漆
粗糙表面上的鋁
20
T
0.4
1
亮漆
耐熱的
100
T
0.92
1
亮漆
電木
80
T
0.83
1
亮漆
黑色,不光亮的
40-100
T
0.96-0.98
1
亮漆
黑色,光滑的,噴灑在鐵上
20
T
0.87
1
亮漆
黑色,無光表面
100
T
0.97
2
冰:參見水
         
塑膠
PVC,塑膠地板,不光亮的,結構化
70
SW
0.94
9
塑膠
PVC,塑膠地板,不光亮的,結構化
70
LW
0.93
9
塑膠
玻璃纖維薄片 (印刷電路板)
70
SW
0.94
9
塑膠
玻璃纖維薄片 (印刷電路板)
70
LW
0.91
9
塑膠
聚氨酯隔離板
70
LW
0.55
9
塑膠
聚氨酯隔離板
70
SW
0.29
9
壁紙
細微的圖樣,淺灰色
20
SW
0.85
6
壁紙
細微的圖樣,紅色
20
SW
0.90
6
夾紙板
未經處理的
20
SW
0.90
6
布料
黑色
20
T
0.98
1
搪瓷
 
20
T
0.9
1
搪瓷
亮漆
20
T
0.85-0.95
1
木頭
 
17
SW
0.98
5
木頭
 
19
LLW
0.962
8
木頭
刨光的
20
T
0.8-0.9
1
木頭
刨光的橡木
20
T
0.90
2
木頭
刨光的橡木
70
SW
0.77
9
木頭
刨光的橡木
70
LW
0.88
9
木頭
夾板,平滑的,乾的
36
SW
0.82
7
木頭
夾板,未經處理的
20
SW
0.83
6
木頭
松木,4 個不同的樣本
70
SW
0.67-0.75
9
木頭
松木,4 個不同的樣本
70
LW
0.81-0.89
9
木頭
白色,濕的
20
T
0.7-0.8
1
木頭
磨平的
 
T
0.5-0.7
1
橡膠
硬質
20
T
0.95
1
橡膠
軟質,灰色,粗糙
20
T
0.95
1
氧化銅
紅色,粉狀
 
T
0.70
1
氧化鋁
活性,粉狀
 
T
0.46
1
氧化鋁
純質,粉狀 (氧化鋁)
 
T
0.16
1
氧化鎳
 
1000-1250
T
0.75-0.86
1
氧化鎳
 
500-650
T
0.52-0.59
1
氫氧化銅
粉狀
 
T
0.84
1
氫氧化鋁
粉狀
 
T
0.28
1
0.1 公厘厚的層
0-100
T
0.95-0.98
1
冰,平滑的
-10
T
0.96
2
冰,平滑的
0
T
0.97
1
冰,覆蓋厚霜
0
T
0.98
1
蒸餾的
20
T
0.96
2
 
T
0.8
1
-10
T
0.85
2
霜結晶
-10
T
0.98
2
   
T
0.60
1
 
20
T
0.90
2
沙岩
磨光的
19
LLW
0.909
8
沙岩
粗糙的
19
LLW
0.935
8
油漆
8 種不同顏色和品質
70
SW
0.88-0.96
9
油漆
8 種不同顏色和品質
70
LW
0.92-0.94
9
油漆
塑膠,白色
20
SW
0.84
6
油漆
塑膠,黑色
20
SW
0.95
6
油漆
17
SW
0.87
5
油漆
油質,平均 16 種顏色
100
T
0.94
2
油漆
油,不同的顏色
100
T
0.92-0.96
1
油漆
油,亮灰色
20
SW
0.96
6
油漆
油,亮黑色
20
SW
0.92
6
油漆
油,均灰色
20
SW
0.97
6
油漆
油,均黑色
20
SW
0.94
6
油漆
鈷藍
 
T
0.7-0.8
1
油漆
鉻綠
 
T
0.65-0.70
1
油漆
鋁,不同的時期
50-100
T
0.27-0.67
1
油漆
鎘黃
 
T
0.28-0.33
1
油,潤滑用
0.025 公厘的膜
20
T
0.27
2
油,潤滑用
0.050 公厘的膜
20
T
0.46
2
油,潤滑用
0.125 公厘的膜
20
T
0.72
2
油,潤滑用
Ni 基膜:僅限於 Ni 基
20
T
0.05
2
油,潤滑用
厚塗層
20
T
0.82
2
泡沫聚苯乙烯
絕緣
37
SW
0.60
7
泥土
乾的
20
T
0.92
2
泥土
飽含水分
20
T
0.95
2
混凝土
 
20
T
0.92
2
混凝土
乾的
36
SW
0.95
7
混凝土
粗糙的
17
SW
0.97
5
混凝土
走道
5
LLW
0.974
8
瀝青鋪料
 
4
LLW
0.967
8
灰泥
 
17
SW
0.86
5
灰泥
石膏板,未經處理的
20
SW
0.90
6
灰泥
粗糙塗層
20
T
0.91
2
灰泥
粗糙,石灰
10-90
T
0.91
1
焦油
   
T
0.79-0.84
1
焦油
紙張
20
T
0.91-0.93
1
爐渣
鍋爐
0-100
T
0.97-0.93
1
爐渣
鍋爐
1400-1800
T
0.69-0.67
1
爐渣
鍋爐
200-500
T
0.89-0.78
1
爐渣
鍋爐
600-1200
T
0.76-0.70
1
玻璃板 (浮式玻璃)
無塗層
20
LW
0.97
14
拋光的
17
SW
0.94
5
瓷器
拋光的
20
T
0.92
1
瓷器
白色,光滑的
 
T
0.70-0.75
1
皮膚
人類
32
T
0.98
2
皮革
已鞣製的
 
T
0.75-0.80
1
石棉
地磚
35
SW
0.94
7
石棉
木板
20
T
0.96
1
石棉
構造物
 
T
0.78
1
石棉
石板
20
T
0.96
1
石棉
粉狀
 
T
0.40-0.60
1
石棉
紙張
40-400
T
0.93-0.95
1
石灰
   
T
0.3-0.4
1
石膏
 
20
T
0.8-0.9
1
砂漿
 
17
SW
0.87
5
砂漿
乾的
36
SW
0.94
7
硬橡膠
   
T
0.89
1
炭粉
 
T
0.96
1
燈黑
20-400
T
0.95-0.97
1
燭灰
20
T
0.95
2
石墨粉
 
T
0.97
1
石墨,銼平的表面
20
T
0.98
2
磚頭
Dinas 二氧化矽,拋光的,粗糙
1100
T
0.85
1
磚頭
Dinas 二氧化矽,未拋光的,粗糙
1000
T
0.80
1
磚頭
Dinas 二氧化矽,耐火
1000
T
0.66
1
磚頭
一般
17
SW
0.86-0.81
5
磚頭
二氧化矽,95% SiO2
1230
T
0.66
1
磚頭
氧化鋁
17
SW
0.68
5
磚頭
泥瓦磚石
35
SW
0.94
7
磚頭
泥瓦磚石,已塗灰泥的
20
T
0.94
1
磚頭
火泥
1000
T
0.75
1
磚頭
火泥
1200
T
0.59
1
磚頭
火泥
20
T
0.85
1
磚頭
矽線石,33% SiO2,64% Al2O3
1500
T
0.29
1
磚頭
紅色,一般
20
T
0.93
2
磚頭
紅色,粗糙的
20
T
0.88-0.93
1
磚頭
耐火磚
17
SW
0.68
5
磚頭
耐火,輻射強烈
500-1000
T
0.8-0.9
1
磚頭
耐火,輻射微弱
500-1000
T
0.65-0.75
1
磚頭
耐火,金剛砂
1000
T
0.46
1
磚頭
耐火,鎂砂
1000-1300
T
0.38
1
磚頭
防水
17
SW
0.87
5
紅丹
 
100
T
0.93
4
紅丹,粉狀
 
100
T
0.93
1
紙張
4 種不同的顏色
70
SW
0.68-0.74
9
紙張
4 種不同的顏色
70
LW
0.92-0.94
9
紙張
深藍色
 
T
0.84
1
紙張
白色
20
T
0.7-0.9
1
紙張
白色黏料
20
T
0.93
2
紙張
白色,3 種不同的光澤
70
SW
0.76-0.78
9
紙張
白色,3 種不同的光澤
70
LW
0.88-0.90
9
紙張
紅色
 
T
0.76
1
紙張
綠色
 
T
0.85
1
紙張
黃色
 
T
0.72
1
紙張
黑色
 
T
0.90
1
紙張
黑色亮漆塗層
 
T
0.93
1
紙張
黑色,不光亮的
 
T
0.94
1
紙張
黑色,不光亮的
70
SW
0.86
9
紙張
黑色,不光亮的
70
LW
0.89
9
纖維板
多孔的,未經處理的
20
SW
0.85
6
纖維板
硬質,未經處理的
20
SW
0.85
6
纖維板
絕緣纖維板
70
SW
0.75
9
纖維板
絕緣纖維板
70
LW
0.88
9
纖維板
顆粒板
70
SW
0.77
9
纖維板
顆粒板
70
LW
0.89
9
花崗岩
磨光的
20
LLW
0.849
8
花崗岩
粗糙的
21
LLW
0.879
8
花崗岩
粗糙的,4 個不同的樣本
70
SW
0.95-0.97
9
花崗岩
粗糙的,4 個不同的樣本
70
LW
0.77-0.87
9
仔細磨光的
200-600
T
0.02-0.03
1
磨光的
130
T
0.018
1
高度磨光的
100
T
0.02
2
金剛砂
粗粒的
80
T
0.85
1
氧化溫度 540°C
1000
T
0.60
1
氧化溫度 540°C
200
T
0.40
1
氧化溫度 540°C
500
T
0.50
1
磨光的
1000
T
0.36
1
磨光的
200
T
0.15
1
磨光的
500
T
0.20
1
 
100
T
0.05
4
 
1000-1500
T
0.14-0.18
1
 
1094
T
0.18
4
 
17
T
0.016
4
 
22
T
0.03
4
 
260
T
0.06
4
 
538
T
0.10
4
帶狀
900-1100
T
0.12-0.17
1
純質,磨光的
200-600
T
0.05-0.10
1
金屬線
1400
T
0.18
1
金屬線
50-200
T
0.06-0.07
1
金屬線
500-1000
T
0.10-0.16
1
光滑的
250
T
0.08
1
未氧化的,磨光的
100
T
0.05
4
氧化溫度 200°C
200
T
0.63
1
氧化的,灰色
20
T
0.28
1
氧化的,灰色
22
T
0.28
4
 
1500-2200
T
0.19-0.26
1
 
600-1000
T
0.08-0.13
1
細絲
700-2500
T
0.1-0.3
1
磨光的
50
T
0.10
1
磨光的
500-1000
T
0.28-0.38
1
磨光的
100
T
0.03
2
純質,磨光的
200-600
T
0.02-0.03
1
刮過的
27
T
0.07
4
嚴重氧化的
20
T
0.78
2
工業用,精製的
20
T
0.07
1
模鑄的
1100-1300
T
0.13-0.15
1
氧化成黑色
 
T
0.88
1
氧化的
50
T
0.6-0.7
1
氧化的,黑色
27
T
0.78
4
磨光的
50-100
T
0.02
1
磨光的
100
T
0.03
2
磨光的,工業用
27
T
0.03
4
磨光的,機械
22
T
0.015
4
純質,仔細處理過的表面
22
T
0.008
4
電解的,仔細磨光的
80
T
0.018
1
電解的,磨光的
-34
T
0.006
4
嚴重風化的
17
SW
0.83-0.94
5
如所接收的,板
100
T
0.09
4
如所接收的,薄板
100
T
0.09
2
弄粗糙的
27
10 µm
0.18
3
弄粗糙的
27
3 µm
0.28
3
強烈氧化的
50-500
T
0.2-0.3
1
浸泡於 HNO3,板
100
T
0.05
4
澆鑄,經過噴砂
70
SW
0.47
9
澆鑄,經過噴砂
70
LW
0.46
9
真空鍍膜
20
T
0.04
2
磨光板
100
T
0.05
4
磨光的
50-100
T
0.04-0.06
1
磨光的,薄板
100
T
0.05
2
粗糙表面
20-50
T
0.06-0.07
1
薄板,4 個樣本用不同方式刮劃
70
SW
0.05-0.08
9
薄板,4 個樣本用不同方式刮劃
70
LW
0.03-0.06
9
鋁箔
27
10 µm
0.04
3
鋁箔
27
3 µm
0.09
3
電鍍的,淺灰色,不光亮的
70
SW
0.61
9
電鍍的,淺灰色,不光亮的
70
LW
0.97
9
電鍍的,黑色,不光亮的
70
SW
0.67
9
電鍍的,黑色,不光亮的
70
LW
0.95
9
電鍍薄板
100
T
0.55
2
鋁青銅
 
20
T
0.60
1
氧化溫度 400°C
400
T
0.11
1
氧化的表面
1000-1200
T
0.50-0.60
1
磨光的
200-300
T
0.04-0.05
1
薄板
50
T
0.20
1
精製的
20-50
T
0.04-0.06
1
鍍錫薄鐵板
100
T
0.07
2
鍍鋅鐵
嚴重氧化的
70
SW
0.64
9
鍍鋅鐵
嚴重氧化的
70
LW
0.85
9
鍍鋅鐵
薄板
92
T
0.07
4
鍍鋅鐵
薄板,氧化的
20
T
0.28
1
鍍鋅鐵
薄板,精製的
30
T
0.23
1
鍍錫鐵
薄板
24
T
0.064
4
 
22
T
0.07
4
 
260
T
0.13
4
 
538
T
0.18
4
磨光的
20
T
0.07
2
鎂粉
   
T
0.86
1
 
1500-2200
T
0.24-0.31
1
 
200
T
0.05
1
 
600-1000
T
0.1-0.16
1
細絲
3300
T
0.39
1
光亮的無光表面
122
T
0.041
4
在鐵上電鍍,未磨光的
20
T
0.11-0.40
1
在鐵上電鍍,未磨光的
22
T
0.11
4
在鐵上電鍍,磨光的
22
T
0.045
4
工業用純質,磨光的
100
T
0.045
1
工業用純質,磨光的
200-400
T
0.07-0.09
1
氧化溫度 600°C
200-600
T
0.37-0.48
1
氧化的
1227
T
0.85
4
氧化的
200
T
0.37
2
氧化的
227
T
0.37
4
磨光的
122
T
0.045
4
金屬線
200-1000
T
0.1-0.2
1
電解的
22
T
0.04
4
電解的
260
T
0.07
4
電解的
38
T
0.06
4
電解的
538
T
0.10
4
電鍍的,磨光的
20
T
0.05
2
鎳鉻合金
噴砂處理的
700
T
0.70
1
鎳鉻合金
軋製的
700
T
0.25
1
鎳鉻合金
金屬線,氧化的
50-500
T
0.95-0.98
1
鎳鉻合金
金屬線,無瑕疵
50
T
0.65
1
鎳鉻合金
金屬線,無瑕疵
500-1000
T
0.71-0.79
1
鐵和鋼
光滑的氧化層,薄板,
20
T
0.82
1
鐵和鋼
光滑的,刻蝕的
150
T
0.16
1
鐵和鋼
冷軋的
70
SW
0.20
9
鐵和鋼
冷軋的
70
LW
0.09
9
鐵和鋼
剛才軋製的
20
T
0.24
1
鐵和鋼
剛用金剛砂處理的
20
T
0.24
1
鐵和鋼
嚴重生鏽的
17
SW
0.96
5
鐵和鋼
嚴重生鏽的薄板
20
T
0.69
2
鐵和鋼
強烈氧化的
50
T
0.88
1
鐵和鋼
強烈氧化的
500
T
0.98
1
鐵和鋼
氧化的
100
T
0.74
4
鐵和鋼
氧化的
100
T
0.74
1
鐵和鋼
氧化的
1227
T
0.89
4
鐵和鋼
氧化的
125-525
T
0.78-0.82
1
鐵和鋼
氧化的
200
T
0.79
2
鐵和鋼
氧化的
200-600
T
0.80
1
鐵和鋼
熱軋的
130
T
0.60
1
鐵和鋼
熱軋的
20
T
0.77
1
鐵和鋼
生鏽的,紅色
20
T
0.69
1
鐵和鋼
磨光的
100
T
0.07
2
鐵和鋼
磨光的
400-1000
T
0.14-0.38
1
鐵和鋼
磨光的薄板
750-1050
T
0.52-0.56
1
鐵和鋼
磨平的薄板
950-1100
T
0.55-0.61
1
鐵和鋼
粗糙,平面
50
T
0.95-0.98
1
鐵和鋼
精鍊的,仔細磨光的
40-250
T
0.28
1
鐵和鋼
覆蓋紅鏽的
20
T
0.61-0.85
1
鐵和鋼
覆蓋紅鏽的,薄板
22
T
0.69
4
鐵和鋼
軋製的薄板
50
T
0.56
1
鐵和鋼
電解的
100
T
0.05
4
鐵和鋼
電解的
22
T
0.05
4
鐵和鋼
電解的
260
T
0.07
4
鐵和鋼
電解的,仔細磨光的
175-225
T
0.05-0.06
1
鐵,澆鑄
加工的
800-1000
T
0.60-0.70
1
鐵,澆鑄
塊狀
1000
T
0.95
1
鐵,澆鑄
未加工的
900-1100
T
0.87-0.95
1
鐵,澆鑄
氧化溫度 600°C
200-600
T
0.64-0.78
1
鐵,澆鑄
氧化的
100
T
0.64
2
鐵,澆鑄
氧化的
260
T
0.66
4
鐵,澆鑄
氧化的
38
T
0.63
4
鐵,澆鑄
氧化的
538
T
0.76
4
鐵,澆鑄
液狀
1300
T
0.28
1
鐵,澆鑄
澆鑄
50
T
0.81
1
鐵,澆鑄
磨光的
200
T
0.21
1
鐵,澆鑄
磨光的
38
T
0.21
4
鐵,澆鑄
磨光的
40
T
0.21
2
雪:參見水
         
青銅
多孔的,粗糙的
50-150
T
0.55
1
青銅
磨光的
50
T
0.1
1
青銅
磷青銅
70
SW
0.08
9
青銅
磷青銅
70
LW
0.06
9
青銅
粉狀
 
T
0.76-0.80
1
黃銅
不光亮的,失澤的
20-350
T
0.22
1
黃銅
氧化溫度 600°C
200-600
T
0.59-0.61
1
黃銅
氧化的
100
T
0.61
2
黃銅
氧化的
70
SW
0.04-0.09
9
黃銅
氧化的
70
LW
0.03-0.07
9
黃銅
用 80 粒度金剛砂摩擦
20
T
0.20
2
黃銅
磨光的
200
T
0.03
1
黃銅
薄板,用金剛砂處理
20
T
0.2
1
黃銅
薄板,軋製的
20
T
0.06
1
黃銅
高度磨光的
100
T
0.03
2
黏土
耐火的
70
T
0.91
1