18 溫度記錄測量技術
18.1 簡介
紅外線熱像儀會測量和成像物體放射的紅外線輻射。由於輻射是物體表面溫度的函數,因此熱像儀可以計算和顯示相關溫度。
然而,熱像儀測量出的輻射不只和物體溫度有關,也是發射率的函數。輻射也源自四周環境,並在物體中反射。來自物體的輻射和反射的輻射也會受到空氣吸收率的影像。
為了正確測量溫度,因此必須補償幾個不同輻射來源的效果。這由熱像儀在線上自動進行。然而,必須提供下列物體參數給熱像儀:
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物體放射率
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反射表象溫度
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物體和熱像儀之間的距離
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相對溼度
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大氣溫度
18.2 放射率
需要正確設定的最重要物件參數是放射率,簡言之,就是和相同溫度的完美黑體放射量相比,被測物件放射了多少輻射。
一般而言,物體材料和表面處理會顯出約介於 0.1 到 0.95 之間範圍的放射率。高度磨光 (鏡子) 的表面不超過 0.1,而氧化或塗漆的表面放射率較高。不論在可見光頻譜中是什麼色彩,油性漆的放射率在紅外線頻段中會超過 0.9。人體皮膚的放射率為
0.97 到 0.98。
未氧化的金屬則呈現極端性,幾乎是完全不透明,反射率也很高,而波長的差異則不大。因此金屬的放射率很低 – 只會隨溫度而增加。對非金屬而言,放射率通常滿高的,會隨溫度而降低。
18.2.1 找出一種樣本的放射率
18.2.1.1 步驟 1:確定反射表象溫度
使用以下兩種方法之一確定反射表象溫度:
18.2.1.1.1 方法 1:直接方法
請執行以下程序:
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找出可能的反射源,考慮入射角等於反射角 (a = b)。
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如果反射源是一個點放射源,可透過使用一塊硬紙板將其屏蔽。
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請使用以下設定測量來自反射源的輻射強度 (= 表象溫度):
您可使用以下兩種方法之一測量輻射強度:
您不能使用熱電耦來測量反射表象溫度,熱電耦雖然可測量溫度,但表象溫度卻是輻射強度。
18.2.1.1.2 方法 2:反射片法
請執行以下程序:
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弄皺一大塊鋁箔。
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撫平鋁箔並將其粘貼到一塊同樣大小的硬紙板上。
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將這塊硬紙板放置在要測量的物體前。確保鋁箔的一面對著熱像儀。
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將放射率設為 1.0。
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測量鋁箔的表象溫度並記錄下來。鋁箔被認為是完美的反射器,因此其表象溫度等於來自周圍環境的反射表象溫度。
18.2.1.2 步驟 2:確定放射率
請執行以下程序:
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選擇放置樣本的位置。
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根據上述步驟確定並設置反射表象溫度。
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將一塊高放射率(且數值已知)的絕緣膠帶貼於樣本之上。
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將樣本加熱到至少高於室溫 20 K。加熱應當相對均勻。
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對焦並自動調整熱像儀,然後凍結影像。
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調整
溫階
和
溫寬
以獲得最佳影像亮度和對比度。
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設定那條膠帶的放射率(通常是 0.97)。
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使用以下一種測量功能測量膠帶的溫度:
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等溫線
(幫助您確定溫度和加熱樣本的均勻度)
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點
(比較簡單)
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方框
平均
(適用於放射率不均勻的表面)。
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記錄下溫度。
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將測量功能移動到樣本表面以下。
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變更放射率直至讀出的溫度與前面測量的相同。
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記錄下放射率。
注意
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避免強制對流
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尋找一種不會產生點反射的熱穩定環境。
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請使用不透明且放射率確定的高品質膠帶
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這一方法假定膠帶的溫度和樣本表面相同。如果不相同,放射率的測量將不準確。
18.3 反射表象溫度
這一參數用於補償物體上反射的輻射。如果放射率很低並且物體溫度相對與反射的溫度相差很遠,則必須正確設定該參數用於補償反射表象溫度。
18.4 距離
距離指物體和熱像儀前面鏡頭之間的距離。這一參數補償以下兩種情況:
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來自目標的輻射被物體和熱像儀之間的空氣所吸收。
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來自空氣本身的輻射被熱像儀所檢測到。
18.5 相對濕度
熱像儀也可以補償根據大氣相對濕度進行的發射。若要這麼做,將相對溼度設定為正確的值。對於短距離和一般的溼度,相對溼度一般可以保留為預設值 50 %。
18.6 其他參數
此外,
FLIR Systems
提供的一些熱像儀和分析程式讓您可以補償下列參數:
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空氣溫度 – 即熱像儀和目標之間的空氣溫度
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外部光學溫度 – 即熱像儀正面使用之任何外部鏡頭或視窗的溫度
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外部光學穿透率 – 即熱像儀正面使用之任何外部鏡頭或視窗的穿透